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2000V離子遷移實驗裝置

簡要描述：2000V離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

  • 更新時間：2024-04-15
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  • 廠商性質：生產廠家
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加工定制是

高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録
高電圧絶縁信頼性試験裝置　HVUαシリーズ

HVUα本體

製品の特?

  • 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)

  • CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加

  • CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能

  • 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し

  • 短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

  • トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)

  • 専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能

  • 5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能

用途

?電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評価。

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対応OS：WindowsXp、7、8、10

 

 

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